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埼玉大学 大学院理工学研究科 電気電子システム領域

塩田 達俊 准教授

高速・非接触・大面積・高精度な物体形状の光センシング機器

装置・デバイス
小間 M-16
プレ 0829-A-28

Saitama University Associate professor Tatutoshi Shioda

High-speed surface inspection technique providing wide-range and high-resolution specifications. An optical interferometry and imaging sensors are combined for realizing the novel profilometry and tomography.

小間:小間番号   プレ:プレゼンテーション番号

12 つくる責任 つかう責任
出展ゾーン
大学等シーズ展示ゾーン
出展分野
装置・デバイス
小間番号
M-16
大学等シーズ展示ショートプレゼンテーション
0829-A-28
2019年8月29日(木)
会場A
13:10 - 13:15

展示概要

技術概要
製造業の生産ラインでは表面や塗装面の欠陥検出が求められます。既存の計測器では検査スピードが遅く広範囲の高分解能計測が不可能で実用化しない現実があります。そこで光周波数コムシングルショット断層イメージング技術を提案します。深さ断面の表面形状や内部構造をCCDでリアルタイムに撮像する技術や層構造から層毎のスペクトルを分離解析できる光計測システムを考案しました。本システムで用いる光学干渉計の出力波形は位置・構造・スペクトル・分散など多くの情報を含んでいます。これらを分離し実用化できるか検討しています。

想定される活用例
・インライン製品表面計測
・全数検査
・キズ検査
・医療用検査

 

展示のみどころ
シングルショットで奥行断層画像が映し出されるイメージング画像をリアルタイムで写し出し、臨場感がある実時間計測が可能であることをアピールする。

 

シングルショット2次元断層イメージングのイメージ図 / Schematic of the single-shot 2D tomography

特許情報

特許情報1 発明の名称
干渉計
特許情報1 出願人
国立大学法人埼玉大学
特許情報1 発明者
塩田達俊
特許情報1 出願日
2010年3月30日
特許情報1 出願番号
2011-507241
特許情報2 発明の名称
レーザー光源装置及び干渉計
特許情報2 出願人
国立大学法人埼玉大学
特許情報2 発明者
塩田達俊
特許情報2 出願日
2015年6月24日
特許情報2 出願番号
2015-126634
特許情報3 発明の名称
距離測定装置および距離測定方法
特許情報3 出願人
国立大学法人埼玉大学
特許情報3 発明者
塩田達俊
特許情報3 出願日
2014年3月2日
特許情報3 出願番号
2014-040005

お問い合わせ先

埼玉大学 研究機構 オープンイノベーションセンター

メールアドレス:coic-sangaku@ml.saitama-u.ac.jp

電話:048-858-3849   FAX:048-858-9419  

URL:http://www.saitama-u.ac.jp/coalition/

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